NANO邀您共襄 2017第19届 DMP

NANO邀您共襄 2017第19届 DMP

专注产品品质的提升和优化，提供全方位的一站式测量解决方案

DMP 2017

展会地点：广东现代国际展览中心

时间：2017年11月28-12月1日

纳诺测量展位：3C132

本次纳诺推出LIMS系统展示，深度数据辅助洞察，帮您一站式解决实验室大数据管理。

实验室信息管理系统采用“填单送样->收件登记->作业排配->案件测试->报告审核-->自动邮件发送-->取样结案”这一 固化流程，通过有效分解测试工序，按照优先级自动排配测试资源（人员、仪器），使得测试工作更加快速顺畅。

SPC模块数据分析

强大的SPC数据分析模块，可进行测量数据对比。报告格式客制化，能够满足使用需求。

复合式测量影像仪

在影像的基础上新增接触式探针、同轴镭射；实现了一机多用，同时具备了影像和三坐标的功能。降低了测量设备对人力的需求，解决了客户人力紧缺的难题；同时也大大的提高了测量室的测量效率。使得产品检测变得更加灵活与精准。